TB02、KSD301、ST-22 微型温控制开关寿命测试仪系统电路设计
微型温度控制开关主要使用碟形双金属作为温度感应组件。微型温度控制开关的工作原理是:当温度升高时,光盘会相应变形。当温度达到磁盘变形的温度时,磁盘的跳动取决于另一个设备的机械传动,从而导致触点快速动作以打开或关闭电流。工作温度范围:30°C -300°C。
微型温度控制开关容易出现三个问题:
首先,当温度控制开关本身的双金属片的温度跳得太高时。电热水壶中的蒸汽无法使双金属盘达到跳跃温度,从而温度控制开关无法切断电流,电热水壶中的水沸腾且无法停止而造成危险;其次,双金属是机械加工的零件。跳跃和复位具有机械寿命。材料问题或加工问题直接影响双金属的使用寿命。假设水壶通常一天使用5次,一年将近2000次。为确保水壶使用超过5年,必须确保温度控制开关或双金属片的使用寿命超过10,000次;最后,温度控制开关的小弹簧与双金属片相同,并且还是机械加工配件。其寿命也直接影响温度控制开关甚至电热水壶的寿命。因此,温度控制开关寿命测试仪的研究与设计实质上是一种用于测试双金属弹簧和跳动小弹簧的寿命测试仪。在实际生产测试中,通过抽样选择测试。
电路板设计:
本部分以微控制器(MCU)为智能控制的核心。水壶的温度由DS18B20温度传感器收集和测量,然后传送到MCU进行处理并显示在LED或数字管中。当测试遇到故障或测试完成时,会发出适当的声光指示。
电路原理图如图4所示。
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